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日期:2013-07-02瀏覽:1013次
異頻介質(zhì)損耗測試儀

介質(zhì)損耗測試儀是一種*測量介質(zhì)損耗(tgδ)和電容容量(Cx)的儀器,用于工頻高壓下,測量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設備的介質(zhì)損耗,(tgδ)和電容容量(Cx)它淘汰了  QS  高壓電橋,具有操作簡單、中文顯示、打印、使用方便、無需換算、自帶高壓、抗干擾能力強、測試時間(在國內(nèi)同類產(chǎn)品中速度zui快)等特點。體積小、重量輕是我公司的第二代抗干擾介質(zhì)損耗測試儀。  
介質(zhì)損耗測試儀主要技術(shù)指標
       1、環(huán)境溫度:0 ~ 40℃(液晶屏應避免長時日照)         
      2、相對濕度:30% ~ 70% 
       3、供電電源:電壓:220V±10%、頻率:50±1Hz 
      4、外形尺寸:長×寬×高   500mm×300mm×400mm  
      5、重量:    約18Kg           
      6、輸出功率:0.6KVA 
       7、顯示分辯率:3位、4位(內(nèi)部全是6位) 
      8、測量范圍及輸出電壓選擇: 
                  介質(zhì)損耗(tgδ):±0.00~±999% 
                 試品電容容量(Cx)和加載電壓: 
                  2.5KV檔:≤300nF(300000pF)            3KV檔:≤200nF(200000pF) 
                  5KV檔:≤76nF(76000pF)                7.5KV檔:≤34nF(34000pF) 
                  10KV檔:≤20nF(20000pF) 
      9、基本測量誤差: 
                  介質(zhì)損耗(tgδ):1%±7個字(加載電流20uA~500mA) 
                  介質(zhì)損耗(tgδ):2%±9個字(加載電流5uA~20uA) 
                 電容容量(Cx):1.5%±1.5pF
 
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云母板,
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